Băjenescu, Titu I.
Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme
Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung
Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sin ...
Im Bestand seit:
27.11.2021
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