Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme
Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung
Person: Băjenescu, Titu I.
Year: 2020
Language: German
Scope: 639 p.
Available
- Contents:
- Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.
Titu-Marius I. Băjenescu ist emeritierter Universitätsprofessor und war zuletzt als unabhängiger Berater in den Bereichen Telekommunikation, Zuverlässigkeit, Qualität und Sicherheit elektronischer Systeme tätig. Er hat an zahlreichen europäischen Universitäten geforscht und gelehrt und für seine Leistungen zwei Ehrendoktortitel erhalten. Er ist Autor mehrerer Bücher zum Thema elektronischer Bauelemente in französischer, rumänischer, englischer und deutscher Sprache.
Title Information
Title: Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme
Person: Băjenescu, Titu I.
contributor: Springer Fachmedien Wiesbaden
Publisher : Springer Fachmedien Wiesbaden
ISBN: 9783658221782
Category: Non-Fiction & Guidebooks, Science & Technology, Electronics & Electrical Engineering
File size: 13 MB
Format: PDF
Loan period: 21 days